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產品簡介
XY-754N紫外可見分光光度計自動波長掃描 ，采用高性能51微機控制系統，具備強大的數據處理和存儲能力，可保存多組標準曲線及測試數據，便于用戶隨時調用和對比分析。儀器配備智能自診斷功能，可實時監測光路系統、電源模塊等關鍵部件的運行狀態，及時發現并提示異常，極大提高了設備的穩定性和維護效率。
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XY-754N紫外可見分光光度計自動波長掃描
（一）XY-754N紫外可見分光光度計自動波長掃描 儀器特點
XY-754N紫外可見分光光度計采用高性能51微機控制系統，具備強大的數據處理和存儲能力，可保存多組標準曲線及測試數據，便于用戶隨時調用和對比分析。儀器配備智能自診斷功能，可實時監測光路系統、電源模塊等關鍵部件的運行狀態，及時發現并提示異常，極大提高了設備的穩定性和維護效率。
該儀器特別設計了斷電保護功能，有效避免突然停電導致的數據丟失問題，確保實驗數據的完整性與安全性。內置專業化定量分析軟件，提供直觀的中文操作界面，用戶可通過向導式流程輕松完成光度分析、定量計算、動力學測試、光譜掃描、多波長測定及DNA/蛋白質分析等多種應用。
儀器支持多種外設連接，配備標準打印機接口和RS-232通訊接口，可方便地輸出測試報告和數據，實現信息化管理。其自動波長調節功能顯著提升了分析效率和準確性，尤其適合大批量樣品的快速檢測。
技術參數
儀器型號：XY-754N
波長驅動：自動波長
波長范圍：200-1000nm
波長準確度：±2nm
波長重復性：0.5nm
光譜帶寬：4nm
透射比準確率：±0.5%T
透射比重復性：0.2%T
透射比范圍：0.0-200%T
光度范圍：-3-3A,0-200%T,0-9999C
雜散光：0.2%T@220nm/360nm
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